仪器特点：

1．仪器外观选用独特的流线型设计，时尚雅致。

2．同时分析元素周期表中由硫(S)到铀（U）。

3．可以分析多5层镀层，可分析元素多达24种。

4．无需复杂的样品预处理过程，无损测试。

5．检出限可达到2ppm。 

6．分析测量动态范围宽，可从0.005μm到60μm 。

7．采用美国原装、国际先进的探测器，能量分辨率高。

8．采用美国原装、国际先进的AMP，处理速度快，高，稳定可靠。

9．X光管采用正高压激发，激发与测试条件采用计算机软件数码控制与显示。

10．采用彩色摄像头，准确观察拍摄样品。

11．采用电动无极控制样品平台，可以进行X-Y-Z的移动，准确方便。

12．采用双激光对焦系统，准确定位测量位置。 

13．高度传感器。

14．保护传感器，有效保护探测器。 

15．度高，稳定性好，故障率低。

16．辐射安全系统：隐蔽式设计、软件、硬件三重射线防护系统多层屏蔽保护，辐射安全性可靠。 

17．WINDOWS XP 中文应用软件，独特先进的分析方法，完备强大的功能，操作简单，使用方便。

应用:

塑料制品工业镀层、电子材料镀层（接插件、半导体、线路板、电容器等）、钢铁材料镀层（铁、铸铁、不锈钢、低合金、表面处理钢板等）、有色金属材料镀层（铜合金、铝合金、铅合金、锌合金、镁合金、钛合金、贵金属等）、其它各种镀层厚度的测量及成分分析。

1.铜上镀金单镀层厚度测量铁、铜等材料上镀金的金厚度测量是工业中常见的，利用Thick-900系列X荧光镀层测厚仪可以获得很的结果。

荧光厚度与已知厚度样品结果对比：