产品介绍:

SD-300i用于测定单晶材料的表面缺陷，适用于科研、工业生产等需求。该仪器还是一台半自动高定向仪，实现了缺陷和定向双功能。

产品特点：

■     缺陷和定向双功能
■     配有射线窗口电磁光闸和可靠的射线防护罩，确保安全使用

■     表格和曲线的形式显示，一目了然

■     速度快，重复性好

■     效率高，数据实时处理

技术参数：

■     测试时间：1-2分钟

■     重复性：≤±5″。
■     测角为±15″

■     小读数1″

典型客户:

台湾及国内蓝宝石及半导体客户广泛应用。