二次离子质谱概述

u  一定能量的离子打到固体表面会引起表面原子、分子或原子团的二次发射，即离子溅射。溅射的粒子一般以中性为主，其中有一部分带有正、负电荷，这就是二次离子。利用质量分析器接收分析二次离子就得到二次离子质谱。根据溅射的二次离子信号，可对被轰击样品的表面和内部元素及分布特征进行分析。

u  二次离子质谱仪主要用于材料学（半导体、薄层、绝缘材料等）、地质空间学、天体化学、环境微生物学和细胞学。

u  主要功能：

               质谱分析-表面微区元素组成

               痕量元素深度剖析

               二次离子成像及显微图像分布（2＆3D）

               稳定同位素丰度比

               放射性颗粒分析

               地质定年

大型二次离子质谱 IMS 1280-HR

u  针对地质领域和环境科学分析专门而设计、注重原位分析

u  具有超高的灵敏度

u  U-Pb地质学定年、稳定同位素分析、痕量元素以及放射性颗粒分析的水平分析仪器

     K/Ca dating: MR>30,000 (monocollection)

     Rb/Sr dating: MR>20,000-40,000(monocollection)

     Mg & metal isotope ratios: MR>5000(multicollection)

     Li-U区间元素快高度同位素丰度比测量

大型二次离子质谱性能优势

u  灵活多用的多接受系统，尤其适于用于同位素分析。

u  两种具有反应活性的的离子源，在数据采集的同时可对其进行监控。

u  具有高度再现能力的样品台。

u  NMR高分辨磁场控制。

u  独有的图像功能。

u  完全计算机化自动工作，可远程监控。

u  通过加入一个新的六极靴，对耦合进行了重新设计，减少了轴上二次畸变。

u  多接受模式下，峰形得到很大的改善。

u  优化了真空以降低背底，有利于探测轻元素，氢化物。