BINNA自动对焦单芯干涉仪
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产品属性
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BINNA自动单芯干涉仪是维度科技研发的全自动、非接触式的光纤端面干涉仪;该光纤端面干涉仪采用红光干涉测量原理,使用光学方法不但可对单芯光纤连接器的光纤端面的几何参数如曲率半径、顶点偏移、光纤高度等参数进行测试,也可对光线切割角度以及裸插芯的端面几何参数进行测试。BINNA已通过Telcordia能够保证测试数据准确有效、可靠。BINNA具备自动对焦、自动居中等自动化功能,能够减少人员操作步骤,提高测试的速度和可靠性,从而提高光纤连接器制程中的质量以及速度。自动生成数据报表以及能对生产制成进行管理,并提供可追溯性。具备各项自动功能的BINNA是一款非常适用于生产环境中使用的测试设备。
产品特点
1. 自动对焦
2. 自动居中光纤
3. 自动测量模式
4. 测量单芯仅需要1.5S(不含对焦)
5. 裸插芯测量模式和裸光纤测量模式
6. APC测试切换简单
7. 配备多种长寿命夹具
8. 自动生成通用EXCEL格式和数据
9. 通过Telcordia。
设备参数
测量参数 | 测试范围 | 重复性 | 再现性 |
曲率半径*(mm) | 1 to flat | 0.1% | 0.2% |
光纤高度*(nm) | -160~+160 | +/-1 | +/-2 |
顶点偏移*(um) | 0~200 | +/-0.5 | +/-1.5 |
APC角度*(°) | 0(PC)或8(APC) | 0.01 | 0.02 |
测量速度(秒) | 1.5s | ||
自动聚焦速度(秒) | 2s | ||
视场 | 红光LED | ||
重量 | 5.5kg(主机) | ||
体积 | L25.6*W16.2*H9.2(cm) |
*为sigma数值