光谱仪专用薄膜，又名X射线荧光光谱仪样品薄膜， XRF样品膜，X-ray样品薄膜，ROHS检测专用薄膜。 产品介绍： 在用X荧光光谱仪进行ROHS、WEEE检测和一般材料成分分析时，由于样品的不规则（液体、粉末、泥浆或固体样本），需要借助样品杯和薄膜辅助检测；但不合适的样品薄膜往往造成样品污染并影响材料成分分析的X射线信号和检测结果。选择适当的薄膜材料对于分析结果至关重要。   如何选择样品薄膜？ 适当的样品薄膜选择主要满足以下几点：  使用方便快捷；  避免造成待测样品污染； 优越的分析物透射比与强度；  对待测样品的耐化学性。   此款薄膜使用方便简捷，无污染，薄膜张力特性，与样品杯组合使用，适合盛放各类金属重物、液体或粉末，广泛应用于牛津、斯派克、天瑞、华唯等各种品牌的XRF光谱仪。