检验千分尺：

一、测量面的平行度及平面度采用光学平晶进行检验:

   光学平面与丝杆测量面或测砧测量面贴合后，由于测量面的不平度，

使平晶与测量面之间存在空隙，从而产生干涉带或干涉环，在测量面的

垂直方向每条干涉带或干涉环所代表的平面度误差为0.3μm.

二、测量面的平行度误差：

   测量范围上限至100mm的千分尺两侧量面的平行度采用丝杆螺距的1/3

或1/4的光学平行平晶来进行检验，依次将光学平行平晶防入两测量面间

转动测力装置。施加5-10N的力,使两测量面出现的干涉环或干涉带数目

减少至少.

   测量范围大于100mm的千分尺,测量面的平行度可用自准直仪进行检

验.

   在距测量边缘0.4mm范围内的平行度忽略不计，

三、测量面的平面度误差：

   采用二级光学平晶检验，应调整光学平晶使测量面上干涉带或干涉

环。

   测量面不应出现两条以上的相同颜色的干涉环或干涉带（测量量面的

平面度，〈0.6μm）

   在距测量面边缘0.4mm范围内的平面度忽略不计。