• 产品型号：

  EDX8800E

详细说明

 产品特点 1. 采用国际先进的美国原装进口SDD硅漂移探测器,分辨率更高, 大大提高了轻元素的检出限，标准检出限较SI-PIN探测器提高100倍；测量范围更宽，基本涵盖了各种常规材料元素分析要求； 2. 配置美国原装进口数据集成处理系统,数据采集速度更快，测量更稳定，重复性和长期稳定性更好； 3. 配置新开发的专用测量软件,集成多种图形计算方法,测量数据更精准，更稳定； 4. 软件全面监控仪器主要部件运行状态,使用更安全； 5. 配置专门开发的真空系统,真空性能更好,测试效果更佳； 技术参数: 1. 元素分析范围从钠(Na)到铀(U) 2.. 元素含量分析范围为1ppm到99.99％ 3. 检出限：1ppm 4. 测量时间：60-200秒(可调) 5. 仪器工作电源：AC220±5V 6. 能量分辨率为129±5eV 7. X 射线光管输出电流：1mA 8. 极限压力：6.7×10^-2 Pa 9.样品腔尺寸：610*320*100(mm)（不抽真空）/Φ100*h75(mm) (真空样品腔) 10.多次测量重复性(以标准样品为准)：±0.05％（高含量）/±0.002％(微量) 11.长期工作稳定性(以标准样品为准)±:0.06％ (高含量）/±0.0025％(微量) 觉得产品介绍不够清楚？欢迎你提问，时间解答您的疑惑 给我留言