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ZEISS LSM 700 激光共聚焦扫描显微镜
蔡司新推出的全新一代激光共聚焦扫描显微镜LSM 700,采用的激光光路设计,具有更短的激光光路,光源更加稳定可靠,光利用率大为提高,同时将色差校正提高到了前所未有的级别。结合全新的半导体激光器,LSM 700光源具有更高的稳定性和长寿命。LSM 700能够为您提供材料表面未曾观察到的组织细节,为真实的材料表面三维形貌和组织信息。
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技术参数
光学系统:ICCS光学系统
1、镜体:Axio Scope 、Axio Imager、Axio Observer
2、激光器:半导体激光器405、445、488、555、639nm,所有激光器强度可调,
不使用时自动关闭。
3、观察方式:明场、暗场、偏光、微分干涉、荧光
4、分析通道:反射光、透射光、荧光通道
5、PMT探测器:光谱为1nm
6、变焦比:0.5x-40x,步进0.1
7、扫描分辨率:4x1-2048x2048连续可调
8、Z轴分辨率:10nm
9、扫描视场:对角线18mm
10、可配冷热台
共聚焦显微镜功能:
1. 超高分辨率显微镜
常规显微镜的分辨率为0.3-0.5μm,共聚焦显微镜的分辨率可达到0.1-0.2μm,比传统显微镜提高了至少40%,可以分析光学显微镜下无法分析到的细小颗粒。在次微米级别内可以替代扫描电子显微镜。
2.超大景深显微镜
共聚显微镜采用共轭成像原理,对样品表面进行点扫描成像,进而扩展了光学显微镜的景深,对于样品表面比较粗糙的样品依然可以获得高清晰图像。
3、三维形貌显微镜
Lsm700能够快速获得样品表面的三维形貌信息,样品无需制备,并可实现表面高度、体积、角度等几何参数测量。
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4、表面粗糙度仪
Lsm700不仅可以对样品的表面进行三维成像,同时还可以对样品表面的粗糙度进行分析,结合样品的形貌信息使您更加直接的翻译粗糙度信息
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5、大视野观察显微镜
Lsm700 通过蔡司独有的图像拼接功能,可对大面积试样进行全貌分析。
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6、动态视频显微镜
蔡司激光共聚焦显微镜可以按照时间维度对样品表面的变化进行追踪扫描成像,获得样品表面的动态信息。
应用领域
微米和亚微米级部件的尺寸测量,表面形貌观察;半导体芯片表面形貌观察,非接触型的线宽,台阶深度等测量;摩擦学磨痕的体积测量,粗糙度测量,表面形貌;材料科学等。在石油地质方面,对储层微观孔隙结构、流体包裹体以及古生物研究等方面具有重要的应用价值,可以生成油气包裹体的三维图象,确定包裹体的气液比,还可以对储层中的孔喉的分布、面孔率测量、孔喉的大小以及孔喉形状及分布状况进行直观、深入细致的分析和研究。
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通过波长扫描特征曲线可以明显区分两个不同成藏期次的包裹体 锯下来的PZT陶瓷部件
荧光测量
超越非凡,表现出众
以不同的方式检测材料的缺陷和性能:荧光模式下LSM 700为您的材料在结构和性能的分析上提供了更加完善的信息。这一新方式为您提供了更为可靠的分析手段。
复合材料分析
当受到机械压力的时候,材料性能会发生变化么?结构上的缺陷能够展现出来么?混合材料的组份是否被分离?是否发生相变?这些问题可能出现在聚合物和纤维材料的检测中,LSM 700在荧光模式下针对这些问题能够为您提供一个确切的答案。检测一个半透明的样品,其物象及微小粒子量化深度可达几百微米。
任意坡度角
荧光染色方法在观察和检测粒子的泪状结构或孔洞方面应用广泛。与其它观测方式不同,大于90度的斜坡角也可被观察记录。
生物材料中的多重荧光
生物材料在基础研究和工业应用领域变得越来越重要。例如:神经学和蛋白质芯片、医学材料和牙科技术。特别是对细胞集合体领域无机组织和高性能材料的研究, LSM 700多重荧光能够提供独特的解决方案,是其他显微镜技术无法比拟的。
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纸上的荧光片,反射/荧光即发在555nm,三维投影的混合渲染模式
功能表面
智能化轮廓分析,快速高效
为测定材料表面性能,LSM 700提供了完善的非接触式3D轮廓分析功能。
表面质量的可靠度评估
LSM 700是材料表面质量检测方面理想的仪器,例如摩擦学分析、表面精密加工和工具制造等领域。 LSM 700出色的轮廓分析,您可以快速获得二维高度轮廓。借助高分辨率显微镜图像,您可以任何方式和在任何位置获得您想要得到的高度轮廓,这个方式有手画线方式,直线方式,区域方式,轮廓跟踪模式。进行样品粗糙度或波度分析时, 5分钟之内便可得到31000多个参数值。
高度的仿真性
表面的自我清洁功能和减小空气阻力是能够真实的反映材料表面信息的必要条件。LSM 700提供的3D成像模式,为材料加工和仿造提供了一个创新技术。共聚焦图像栈的X , Y和Z的扩展功能可以很容易地适应样品图像缩微后尺寸。
LSM 700 ZEN 软件三维成像技术能够对表面摩擦、磨损测试进行快速评估。软件的几何测量功能和功能模块,如承压比、面积含量和体积含量,能够帮助您获得材料表面结构的各项性能。
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LSM测量粗糙度结果与粗糙度标准可进行比较
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微机电系统(MEMS)
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