供应mjld型吸收率和法向发射率测量
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产品属性
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mjld型吸收率和法向发射率测量装置 | ||
产品介绍 |
mjld型吸收率和法向发射率测量装置,主要用于测量材料的太阳吸收比和法向发射率。它是将吸收率测量装置和法向发射率测量装置合为一体,配有计算机和专用工作软件,实现自动测量的先进测量设备。本装置是由北京南奇星科技发展有限公司和航天那研究员联合研制。是航天系统测量的智慧结晶。本设备是国内,填补国内测量材料太阳吸收比和法向发射率仪器的空白,同时在测量方法上有进一步的创新。 | |
产品技术指标 |
法向发射率 测量范围:0.05~0.99; 工作温度范围:-30~80℃; 测量不确定度:当εn>0.7 为±1.5%; 当εn<0.2 为±5%;其余为2%; 探测器:平面热电堆 ; 峰值波长:8.4~11μm; 吸收率 测量范围:0.02~0.99; 工作温度范围:-30~80℃; 测量不确定度:当αs>0.8 为±2.0%; 当εn<0.2 为±4%;其余为2.5%; 积分球直径:Φ150; 光源高色温:220V300W; 探测器:真空平面热电堆; 工作波长:0.35~2.5μm; | |
用 途 |
测量固体材料的太阳吸收和法向发射特性。 | |
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