膜厚仪或镀层测厚仪CMI900采用X射线荧光无损检测的一种方式，地检测出多层镀层厚度（镀液、镀锡、镀银等）
镀层测厚仪CMI900为牛津推出的一款非常实用的分析多层镀层厚度·合号及成份·镀液的电子测厚仪。
用 途：镀层测厚仪CMI900用于分析多层镀层厚度成 ·合号及成份·镀液
镀层测厚仪CMI900特 征：
1、X射线荧光镀层厚度及 材料组成测量
2、工业质量控制
3、电子：可焊性 电气连接性 表面处理
4、金属表面处理：耐蚀性 耐磨性/耐热性 装饰性处理
5、合成分类：成 分鉴定与合号