供应手提式X光荧光测厚仪System HMX
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Handheld XRF Analysis Tool 可以测量的常见元素:铜 Cu 金 Au 银 Ag 铁 Fe 锡 Sn 钯 Pa 镍 Ni 锌 Zn 铅 Pb  铬 Cr 等元素周期表Na-U元素基本都可以测量,可以同时非破坏非接触测量出多层的厚度,也可以做超薄镀层测厚