X射线衍射术是一种应用于材料分析的高科技无损检测方法，可以采用这种方法进行分析研究的材料范围非常广泛，包括流体、金属、矿物、聚合物、催化剂、塑料、药物、薄膜镀层、陶瓷和半导体等。X射线衍射方法的应用遍及工业和科研院所，现已成为一种不可缺少的材料研究表征和质量控制手段。具体应用范围包括定性和定量相分析、结晶学分析、结构解析、织构和残余应力分析、受控样品环境、微区衍射、纳米材料、实验和过程的自动控制以及高处理量多形体筛选。

BRUKER AXS是一家的可以提供先进X射线衍射解决方案的供应厂商。由于在X射线光源、光学配件、探测器、软件以及样品台等方面不断进行革新和改进，因此BRUKER AXS能够提供可以完成各种X射线衍射分析任务的解决方案。另外，所有的BRUKER AXS X射线衍射系统均构建于通用的D8平台之上，这种模块化设计为将来系统的升级和降级提供了保证。同时BRUKER AXS还可以提供大量可互换光学配件以便对入射光束进行调节。

样品台在真正意义上实现了无限制：样品旋转器、温度和湿度室、5个自由度的位移控制或者300毫米全自动芯片样品台均可在D8平台上使用。在探测器方面可以任意选用点、一维和二维XRD2探测器来完成所面临的分析任务并得到的分析结果。DIFFRACplus软件包为具体的测量和分析软件提供了通用的外观和友好的界面。同时BRUKER AXS还可以根据客户要求随时为客户提供及时的技术支持、培训和检修服务。