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图文详情
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产品属性
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1产品名称及机型指标介绍:
1.1.产品名称及型号:贵金属检测仪X-3600型
1.2.制造商:天津市博智伟业科技有限公司
1.3.X-3600贵金属检测系统包括:X-3600贵金属检测仪一台,贵金属分析软件一套,密度分析软件一套。
1.4.仪器简介:X-3600型贵金属检测仪是一种体现X射线荧光分析技术新进展的能量色散X射线荧光光谱仪。它采用低功率小型X光管为激发源,电制冷硅半导体探测器为探测单元,再加上我公司专门开发的应用软件,充分发挥各部件的优异性能,保证了整台仪器的高分辨率及通用适应性。任何需要多元素同时分析的地方,正是它大有作为之处。仪器检测能力强,分辨率高,适用于各行业对不同元素进行无损检测。在不同工作环境下分析范围从Al(13号元素)到U(92号元素)。无损分析迅速,无需制样,测试时间从几秒到几分钟可调。检测从PPM级别到千分之别。
1.5.产品图片
X-3600型
1.6.工作条件
●工作温度:15-30℃
●相对湿度:≤70%
●电 源:AC: 220±5V
1.7.技术性能及指标:
1.7.1.分析元素范围:从铝(13号元素)到铀(92号元素)
1.7.2.元素分析含量范围:1ppm到99.99%
1.7.3.测量时间:30秒到180秒可调,一键式快速测量3.5秒可出结果
1.7.4.元素同时分析能力:26种元素
1.7.5.测量样品型态:固体,粉末,液体
1.7.6.测量:以黄金样品为例,高含量样品(含量在75%以上)误差±0.1%,低含量样品(含量在75%以下)误差±0.3%
1.7.7.多次测量重复性:可达0.1%
1.7.8.测量次数:任意可调,且在多次测量时可做平均值及标准偏差测量
1.7.9.探测器:美国AMPTEK原装进口Si-Pin探测器,探测面积6mm2分辨率149eV
1.7.10.X光管:W靶X光管,对金银铂钯等贵金属激发效率更高
1.7.11.高压电源:美国Spellman原装进口高压电源,功率50W,50kV,1mA
1.7.12.密度检测系统:密度检测仪及检测软件一套,可以对样品的密度进行准确分析鉴定,从而实现对未知样品内部材料的定性定量分析(本系统具有性)
1.7.13.镀层检测:仪器可对不同基体上的不同金属镀层进行多层检测,并得出准确结果(使用者可以根据需求进行二次开发)
1.7.14.样品成像定位系统:内置自感光500万像素摄像头及先进的定位软件,方便样品的局部定位测量
1.7.15.定量分析方法:基本参数法,理论Alpha系数法,经验系数法,多元回归法等(国内同行业采取此类综合计算方法)
1.7.16.定性分析方法:元素自动寻峰,Kl谱线标记法,峰谱比对法等
1.7.17.操作软件:开放的可供客户自行开发和升级的工作软件,真正实现零费用升级,使一机多能。
1.7.18.操作模式:一键式操作全电脑控制与人工选择测试方法两种测试模式,满足不同测试单位和测试人员的要求
1.7.19.银铜双峰位校准:银,铜双峰位同时校准,使仪器校准更加精准,随时修正工作曲线,使测量结果达到(同行业中采取此校准方法)
1.7.20.峰位自调系统:当仪器峰位有所偏移时,软件可自动调试恢复仪器到正常测量状态(同行业中采取软件峰位自调系统)
1.7.21.三重防辐射系统:更换样品时X光管自动切断电压电流;样品仓打开,X光管快门自动闭锁;仪器多层屏蔽舱盖,有效防止X射线外溢(同行业中采取三重防辐射系统)
1.7.22.温度控制系统:内部风冷水冷双循环冷却,限度降低X光管工作温度延长光管使用寿命,且保证仪器长时间工作稳定,测量准确
1.7.23.硬件结构:仪器双箱体结构,有效屏蔽干扰,增加仪器整体稳定性
1.7.24.超大样品仓:方便大型样品的检测
1.7.25.测试:测试根据客户要求独立设计
1.7.26.长期工作稳定性:为0.1%;
1.7.27.温度适应范围:为15℃至30℃
1.7.28.工作电源:交流220±5V(建议配置交流净化稳压电源)
2.仪器硬件部分主要配置
2.1 Si-PIN半导体探测器
技术指标及功能:
2.1.1.生产厂商:美国Amptek公司
2.1.2探测器类型:电制冷Si-PIN
2.1.3探测面积:6mm2
2.1.4硅活化区厚度:300um
2.1.5探测器分辨率:对于55Fe,@5.9keV 对于12us的形成时间,半高宽为149eV
2.1.6探测器窗口:铍窗,25um厚
2.2 X光管
技术指标及功能:
2.2.1.低功率X射线管(W靶)
2.2.2.使用寿命7000-10000小时
2.2.3.产生X射线激发源
2.3高压电源
技术指标及功能:
2.3.1.生产厂商:美国Spellman公司
2.3.2.电压和电流从零至满量程连续可调:50KV,1mA
2.3.3.电压调整率:负载调整率:从空载到满载,电压变化为满量程0.01 %
2.3.4.线性调整率:对于规定的输入电压范围,该数值为满量程0.01%
2.3.5.电流调整率:负载调整率:从空载到满载,电流变化为满量程0.01%
线性调整率:对于规定的输入电流范围,该数值为满量程0.01%
2.3.6.稳定性:经过半小时预热后,每8小时变化不超0.05%
2.3.7.温度系数:温度变化一度,电压变化不超过0.01%
2.4 MCA多道分析器:
对采集来的信号进行数据处理,并将处理结果传输给计算机
2.5 高精密摄像头(CCD)
试样观察并储存样本图像
2.6 超大样品腔
样品腔尺寸(220mm×200mm×150mm)
3.整机硬件技术规格:
3.1外型尺寸:600mm×530mm×330mm
3.2可测试样品大小:关仓测量:220mm×200mm×150mm,开仓测量:无限大
3.3仪器重量:50公斤
3.4工作环境温度:0——30℃
3.5工作环境相对湿度:≤70%
3.6元素分析范围:铝(Al)——铀(U)
3.7含量分析范围:1PPM——99.99%
3.8测量时间:60秒到180秒可调,一键式快速测量3.5秒可出结果。
3.9激发源:低功率X射线管(W靶)
3.10高压电源:美国Spellman原装进口高压电源
3.11探测器:美国Amptek原装进口电制冷Si-Pin半导体探测器
3.12仪器分辨率:锰元素在5.89keV能量位置的峰,分辨率至少为180±10eV(完全符合中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会2008年12月31日发布2009年7月1日实施GB/T 新标准对X射线荧光光谱分析仪:锰元素在5.89keV能量位置的峰,分辨率至少为200eV标准要求)。
3.13多道分析器:2048道
3.14工作电源:交流 220V 50Hz
4.仪器软件配置
软件功能:
软件可视频观察样品的放置
同时可分析20多种元素,分析时间短到30秒-120秒
可动进行定性分析,准确
可自动对仪器初始化校准
具有多种光谱拟合分析方法