功能：结合三次元、二次元、工具显微镜、投影仪的功能于一体。
　　功能强大的2D/3D测量系统软件
　　①光学座标系统为基点测量产品的任意二维、三维测空间尺寸。
　　②探针座标系统为基点测量产品的三维空间及二维平面尺寸。
　　③采用相同的座标系统，使用测头的三维测量可与影像二维混合使用或使用影像的二维平面与三维立体测量完美结合。
　　
　　主要高质量配件组成
　　1.光学：
　　①。美国精密多倍率起低变形（远心光学设计）的全自动变倍镜头，全自动对焦（变倍后不需要重新校正）。
　　②。200万像素高清工业CCD（美国TEO）。
　　③。光源：电脑程控四路上光源，直轴可调下光源。
　　2.测头：英国Renishaw高精密接触式测头。
　　3.光栅尺：光栅尺0.0005mm.
　　
　　四、全自动编程：光学测量及探针测量可同时在一组编程中混合使用。
　　仪器特点
　　有点，线，圆，两点距离，角度等基本量测功能，有坐标平移和坐标转换功能
　　四相自动可调光源，可程序控制
　　可以摄取被测物体的图像
　　伺服马达驱动
　　自动对焦量测高度/深度
　　自动版光学影像量测软件
　　IUI功能，以尽量少的步骤完成量测操作。
　　自动编程
　　SPC功能测量数据可导入EXCEL，WORD或CAD软件。
　　
　　基本功能介绍：
　　提供影像量测工具，可进行基本几何元素点线圆弧量测
　　组合元素量测，如角度，，圆心距，圆切线，两线距，两线中线，中心点，垂
　　直距离，角平分线，两线交点等
　　形位误差量测，如同心度，真圆度，直线度，平行度等
　　强大之数学运算分析
　　影像直接经由计算机屏幕显示观察直接量测存盘
　　利用影像工具可快速进行2D轮廓边界点扫描
　　量测工件图形化显示，图形可存盘、打印，并可以转TXT、WORD、EXCEL
　　及AUTOCAD档案式
　　提供公差分析，可进行有效之品管检验
　　工件的对象化可直接对对象进行几何基本运算
　　兼容于2000，XP操作系统。
　　
　　功能介绍：
　　1.自动对焦
　　2.影像自动捕捉，操作简便，量测高
　　3.IUI功能，以尽可能少的时间完成操作
　　4.AUTOCAD读档，图形比对
　　5.全自动同心变倍，同一工件可在不同倍率下量测
　　6.工作不必摆正，有座标转换功能，量测效率高
　　7.全自动编程测量
　　8.SPC功能
　　9.静态量测功能。
　　10.工件测量图片取像功能。
　　SPC量测结构分析模块功能
　　提供均值-极差控制图（Xbar-R）
　　提供均值-标准偏差控制图（Xbar-S）
　　提供中位数-极差控制图（Xm-R）
　　提供单值-移动极差控制图（X-RM）
　　运行图
　　工序能力趋势图
　　工序能力分析图
　　可支持客户按自己要求编排工程输出报表
　　具有运行记忆功能，可防止断电等不可抗拒因素造成运行过程中的数据丢失，便可在原基础上继续运行。

其他说明

具体型号	QV-3020PRO-3D新款(LT-3020DT 老款)
(X/Y/Z轴)量测行(mm)	300*200*150
全机尺寸(mm)	650*720*1650
机台底座和立柱材料	高钢性铝合金
光源材质	LED冷光源
X/Y/Z轴量测	(2+L/200)um
放大倍率光学:0.7--4.5X,影像:28--180X
光学尺解析度	0.5 um
重复测量	1 um
运行速度	max:300mm/S
操作方式	自动
电源供给	220V
合适温度,湿度	温度:19°--24°,湿度:45%--75%
保修期	2年