X-RAY 检测机
X光检测机
VERTEX  X射线检测系统

VJ Electronix Vertex A系列功能强大，配置灵活，检测区域覆盖面积广（20”×24”）,可实现手动和自动的X光检测。板上样品导航功能提供了更为简单的定位性能，使Vertex A系列高度适用于生产线及其它各种应用。
可供选择的X光源（75kV,90kV,130kV,150kV）及探测器（2”/4”/6”图像增强器或平板数字探测器）为您提供了多样性的X射线检测性能。

苏州和谐电子技术有限公司

系统基础参数
型号  A-75  A-90  A-130  A-150
光源  75kV  90 kV  130 kV  150 kV
焦点大小  45μ  5μ  6μ  5μ
空间分辨率  ﹥10 lp/mm  ﹥40 lp/mm  ﹥40 lp/mm  ﹥40 lp/mm
总放大倍率-标配摄像头  ﹥24X  ﹥130X  ﹥70X  ﹥60X
总放大倍率-高分辨率摄像头  ﹥29X  ﹥240X  ﹥130X  ﹥10X
视野（可视区域）  ﹥2”  ﹥1.6”  ﹥2”  ﹥2”
编程能力  选配  标配
设备尺寸  70” ×50” ×62”(D×W×H)   （2000mm×142mm×1575mm）
离轴防护：可用1或2个轴夹具；  检测范围：20” ×24”；  基板尺寸：20¼” ×24¼”