KXR-4000晶片角度测量仪
价格:电议
地区:浙江省 台州市
传 真:86-576-88513823
技术数据:
尺寸重量:长(635mm)×宽(660mm)×高(1350mm),300KG
输入电源:220V+/-10%,50~60Hz,0.5A
输入气源:0.5MPa,20L/min洁净气源
扫描方式:二次θ扫瞄
分选跨度:10"~99"可任意设置
小读数:1"
晶片尺寸要求:X方向6~40mm,Z方向9~40mm.
样本数:1~300可任意设置
δ:1.0~9.0可任意设置
光路调整方式:可控光轨调整装置
输出方式:8英吋TFT触摸屏,CF卡,PICTBRIDGE打印接口
测量模式
提供2°与35°统计方式选择
抽样测试模式
提供单次测量模式
提供静态测试模式
报警功能
标准片校正不规范报警
样本数达到设定数值报警
统计功能
提供样本数据列表
提供三种数据处理模型
动态中心值指示
动态标准偏差值指示
CPK制程能力指数实时计算