KXR-4000晶片角度测量仪
价格:电议
地区:浙江省 台州市
电 话:86-576-88850795
手 机:86-13757650800
传 真:86-576-88513823
  技术数据:
  尺寸重量:长(635mm)×宽(660mm)×高(1350mm),300KG
  输入电源:220V+/-10%,50~60Hz,0.5A
  输入气源:0.5MPa,20L/min洁净气源
  扫描方式:二次θ扫瞄
  分选跨度:10"~99"可任意设置
  小读数:1"
  晶片尺寸要求:X方向6~40mm,Z方向9~40mm.
  样本数:1~300可任意设置
  δ:1.0~9.0可任意设置
  光路调整方式:可控光轨调整装置
  输出方式:8英吋TFT触摸屏,CF卡,PICTBRIDGE打印接口
  
  测量模式
  提供2°与35°统计方式选择
  抽样测试模式
  提供单次测量模式
  提供静态测试模式
  
  报警功能
  标准片校正不规范报警
  样本数达到设定数值报警
  
  统计功能
  提供样本数据列表
  提供三种数据处理模型
  动态中心值指示
  动态标准偏差值指示
  CPK制程能力指数实时计算