超声波测厚仪WDT100利用超声波原理可以对任何超声波良导体材料厚度进行测量，如金属类、塑料类、陶瓷类、玻璃类。
　　
　　
　　超声波测量厚仪根据超声波脉冲反射原理来进行厚度测量的，当探头发射的超声波脉冲通过被测物体到达材料分界面时，脉冲被反射回探头，通过测量超声波在材料中传播的时间来确定被测材料的厚度。时代超声波测量厚仪系列是集当代科技电子技术和测量技术于一体的、先进的无损检测仪器，采用微电脑对数据时行分析、处理、显示，采用高度优化的测量电路，具有测量高、范围宽、操作简便、工作稳定可靠等特点。凡能使超声波以一恒定速度在其内部传播的各种材料均可采用此原理测量。可以对各种板材和加工零件作测量，广泛应用于石油、化工、冶金、造船、航空、航天等各个领域。
　　
　　
　　超声波测厚仪WDT100技术参数：
　　
　　型号
　　WDT100
　　
　　测量范围（标准模式）
　　1.2～200mm（钢，探头分段适用）
　　
　　测量下限（曲面模式）
　　Φ15mm×1.0mm（7.5MHz，Φ6mm探头）
　　Φ10mm×1.2mm（7.5MHz，Φ6mm探头）
　　
　　显示
　　0.1mm/0.01inch
　　
　　材料声速
　　509～18699m/s
　　
　　测量
　　±（0.5%H＋0.05）mm
　　
　　接收带宽
　　1MHz～10MHz（-3dB）
　　
　　测量频率
　　2～20次/秒（可设置）
　　
　　电源
　　3VDC（两节AA碱性电池）
　　
　　工作时长
　　280小时（自动模式），100小时（背光打开）
　　
　　显示屏
　　128×64点阵LCD
　　
　　外形尺寸
　　136（L）×72（W）×20（H）mm
　　
　　重量
　　176g（含电池）
　　
　　工作温度
　　-10～﹢50℃（使用高温探头，工作温度：＜300℃）
　　
　　工作湿度
　　20%～90%RH
　　
　　
　　标准配置：主机1；标配探头1；耦合剂1；电池：2；包装箱1；随机文件1