X－strata960X荧光镀层测厚仪　
　　
　　快速、非破坏性EDXRF分析技术　
　　i22-U92多元素自动鉴别　
　　高可靠、长寿命100瓦微焦点X射线管保证高分析和更短的分析时间　
　　便捷的仪器校正，多种硬件选项满足不同形状样品和不同尺寸样品的要求　
　　一体化工作站设计实现的人机工程学，直观视窗软件实现便捷的操作　
　　强大的数据统计、处理功能　
　　测量范围宽　
　　NIST的标准片　
　　服务及支持　
　　
　　X-Strata960X射线荧光镀层测厚仪可应用于电镀、涂镀、合金、薄膜和电镀液中Ti22-U92间元素的厚度和组成信息的同时测定分析。
　　
　　用于电子元器件，半导体，PCB，汽车零部件，功能性电镀，装饰件，连接器多个行业。