E4991A　射频阻抗／材料分析
　　基本
　　基本＋／-0.8％
　　扫描参数
　　频率：1　MHz　至　3　GHz
　　振荡器电平：高达　1　dBm／0.5　Vrms／10　mArms
　　DC　偏置电平（选件　E4991A-001）：＋／-40V　或＋／-50　mA
　　更多特性
　　Windows　风格的用户界面
　　内置　VBA　编程功能
　　通过　LAN　接口进行数据传输
　　多功能测量选件
　　介电／磁性材料测量（选件　E4991A-002）
　　可靠的晶圆测量（选件　E4991A-010）
　　温度特性测量（选件　E4991A-007）
　　
　　E4991A　射频阻抗／材料分析提供极限阻抗测量性能和功能强大的内置分析功能。它将为元器件和电路设计人员测量　3　GHz　以内的元器件提供创新功能，帮助他们进行研发工作。与反射测量技术不同，E4991A　使用射频电流–电压（RF-IV）技术，可在广泛的阻抗范围内提供更的阻抗测量结果。基本阻抗是＋／-0.8％。高　Q　有利于进行低功耗元器件分析。内置合成器具有　1　MHz到　3　GHz　的扫描范围和　1　MHz的分辨率。
　　材料评估
　　E4991A　提供完整的介电／磁性材料测量解决方案，涵盖　1　MHz　至　1　GHz的宽频率范围。
　　晶圆测量
　　借助E4991A-010探针台连接套件，您可轻松地地将　Agilent　E4991A　连接到射频探头系统（由　Cascade　Microtech　提供）上进行晶圆测量。
　　温度特性评估
　　温度特性测试套件　E4991A-007是一款为元器件和材料进行温度特性测量的新型解决方案。该选件可在-55°C　至＋150°C　广泛的温度范围内提供高的温度特性分析功能，以及强大的温度漂移补偿功能。