目前，矿山、选矿厂、冶炼厂、建材等企业在生产过程中对产品质量进行监测时，往往要进行各种样品元素的分析，在对矿石、精矿以及冶炼原（辅）料、产品的含量进行分析时主要采用化学分析方法。由于化学分析时间较长、影响因素较多，已难以满足现代化企业生产的要求，尤其是对产品质量的监测已严重滞后于生产，不能实时反映物料的品位或质量状况。

　　鉴于此，依据我国相关企业生产的实际情况，开发了一系列满足生产过程质量控制分析测仪器。针对贵单位的实际测量要求，现将先达公司X射线荧光系列分析仪具体特点进行整理，形成此资料。供有关领导参考和决策。

　　本公司生产的CIT-2000、3000系列仪器均属于能量色散X射线荧光分析仪器，它们的基本原理相同。放射性同位素源或X射线发生器放出的X射线或γ射线与样品中元素的原子相互作用，逐出原子内层电子。当外层电子补充内层电子时，会放射该原子所固有能量的X射线－特征X射线。根据受激后退激过程中所放出的特征X射线能量各不相同，依此进行定性分析；根据特征X射线强度大小，可进行定量分析。下面，从X射线荧光产生、X射线荧光的探测、以及理论公式的推导予以介绍。