抗干扰全自动介质损耗测试仪
　　用于测量各种高压电力设备的介质损耗（tgδ）及电容量（Cx）。替代QSI型电桥。
　　主要特点：内附PT和高压标准电容使接线简单。
　　采用光电耦合数据采样测试原理，将矢量运算与移相、倒相法相结合，能强力有效地消除电场干扰。现场适用和适应能力强。在同类型产品中，性能，价格实在。
　　主要技术指标：
　　高压输出：2kV、5kV、10kV
　　PT容量：1kVA
　　量程：tgδ＜50%30pF＜Cx＜60000pF
　　介损测量范围：0.1～100%
　　分辨率：tgδ：0.01%Cx：0.1pF
　　准确度：tgδ1%±0.05%电容C1%
　　误差：tgδ0.03%