大功率IGBT全参数自动测试系统
　　
　　我公司科研人员经过连续技术攻关，在原有YB6500高端半导体分立器件自动测试系统基础上，自行研发出国内首台IGBT测试仪，圆满解决了功率IGBT等新型半导体器件的全参数测试难题，填补了国内在半导体自动测试领域的空白，该项产品综合技术指标达到国际水平。
　　
　　目前我公司提供的该项新产品采用模块式功放结构，主极电流400A/500A/1000A/1250A可选，2500A/5000A选项可以根据用户需要定制。
　　
　　该产品可测试IGBT参数包括了ICES，BVCES，IGESF，IGESR，VGETH，VGEON，VCESAT，ICON，VF，GFS，r　CE等全直流参数，所有小电流指标保证1%重复测试，大电流指标保证0.5%以内重复测试，达到目前国外进口同类产品水平。
　　
　　主要特征简述：
　　
　　★YB半导体分立器件测试仪是我公司从国外引进的国产化项目。该分立器件测试仪目前已通过国内两家计量站的综合检测认定。经过与国内其他分立器件测试系统对比使用，YB测试系统在系统硬件的可靠性、稳定性、功率范围、测试范围、系统测试、测试参数的一致性等多项指标已远远超过国内产品。YB测试系统目前是国内高端的半导体分立器件测试仪器。
　　
　　★作为精密仪器引进项目，YB半导体分立器件测试仪系统严格按照国军标产品之标准，全部选用优质可靠的元器件。系统严格按照军用整机检验标准进行测试检验，确保系统的稳定性和可靠性。YB半导体分立器件测试仪所使用的各种继电器，全部采用国外公司生产的水银继电器，从而大大提高了谊邦系统的测试速度，提高了系统的使用寿命。
　　
　　★服务周到是我公司的优势之一。选用YB半导体测试系统，享受YB电子服务，我们的服务可以在一小时内答复解决方案，到达用户现场当天解决系统出现的所有问题。
　　
　　★YB分立器件测试仪在实际操作中，可真实达到电压2000V、电流50A的测试条件。在极限值条件下测试，系统同样保持高和良好的重复性、稳定性。此项指标远远于国内其他产品。
　　
　　★本分立器件测试系统测试原理和方法符合国家相关规范和标准。
　　
　　★大功率器件测试采用脉冲法测试，脉冲宽度为规定的300uS.
　　
　　★YB半导体测试系统硬件设计先进，升级能力强。为用户今后做测试系统升级提供了有力的技术保障。YB元器件测试系统硬件支持电压升级到5000V，电流升级到1250A.
　　
　　★系统采用先进的嵌入式计算机结构，可以实现脱机测试功能。提高了系统的可靠性和使用灵活性。
　　
　　★YB分立器件测试系统和YB半导体测试夹具全部采用多级开尔文技术，采用无电缆连接设计结构，保证测试结果准确可靠。各种元器件测试夹具均由器件插座和插头采用开尔文技术连接装配，不仅确保长寿命工作，可靠性极高，无故障使用寿命在5X106次以上。使测试数据更加准确无误。
　　
　　★YB半导体测试系统具有被测器件引腿接触自动判断功能。遇到器件接触不良时系统自动停止对被测器件测试，可确保被测器件不受损坏。
　　
　　★真正的动态跨导测试。（国内其他元器件测试系统采用直流方法测动态跨导，测试结果与器件实际值偏差很大）。
　　
　　★二极管极性自动判别测试功能，不需人工判别极性测试，方便操作。
　　
　　★具有单参数测试延时编程功能，用户可根据不同器件要求选择延迟时间，增强参数测试稳定性。
　　
　　★丰富的WINDOWS界面菜单编程和控制能力，方便的用户信息文件、统计文件方式，可以给出批次测试失效数量、合格数量，按实测指标分类器件数量。测试结果可以给出excel等多种形式。
　　
　　★96个程序步，99种分类。
　　
　　★混合参数编程方式（参数测试编程不受器件类别限制），可以对同一器件选用不同类别器件的参数进行编程，大大的扩展系统测试能力，对被测器件进行测试和分析，软件使用方便灵活。自动/固定量程测试功能，选用自动量程时，系统根据实测范围自动调整以达到测试。内部设有可选择的电流型负载和阻型负载。
　　
　　★阻型负载：机内设有不同阻值的电阻负载供选择。
　　
　　★电流型负载：机内设有不同档位的恒流源负载供选择。
　　
　　★用户可以按照参数要求，自己设定参数自动分档功能，以便把不同参数的器件自动加以区分、配对提高器件使用价值。
　　
　　★高速参数测试和存储功能，参数分析能力。平均每参数测试时间只有1毫秒。
　　
　　上述只列出该系统的部分常用特征。其它多种综合处理能力在使用中可以不断开发扩大。可根据用户测试使用的要求，方便地选通其他特征。