降落数值测定仪（KX-211）根据GB／T10361-2008《小麦、黑麦及其面粉，杜伦麦及其粗粒粉降落数值的测定 Hagberg-Perten法》新国家标准自主研制生产降落值测定仪。它是测定谷物中淀粉酶活性的专用仪器，可准确判断谷物的发芽损伤程度，适用于谷物，尤其是小麦和小麦粉的测定，是粮食贮藏、面粉加工、食品加工等领域中进行质量检测的必备仪器。