半导体激光器综合参数测试仪
价格:电议
地区:
电 话:86-531-87975463
手 机:86-15615313282
传 真:86-531-67866886
图文详情
产品属性
相关推荐
仪器类型 主要技术要求 |
小功率 | 中功率 | 大功率 |
功率测量范围与 |
1~100mW; 分档:0-10 mW, 0-50 mW, 0-100 mW ; :量程的±5.0% |
0.1~10W ; 分档:0-500 mW ,0-1000 mW,0-3000mW, 0-10000mW; :量程的±5.0% |
1~100W, 或1-500W以上; 分档:1-10W, 1-50W,1-100W ,1-500W以上; :量程的±5.0% |
驱动电源控制范围与 |
电压范围0-5V,误差:±0.2V; 电流范围:0~400mA,连续和脉冲(脉冲参数: 占空比t:50~500us f:50~500Hz, t,f可任意匹配); 分档: 0-50mA, 0-100 mA, 0-400 mA; 误差:±0.5% |
电压范围:0-5V,误差:±0.2V; 电流范围:0~12000mA,连续和脉冲(脉冲参数: 占空比t:50~200us f:50~200Hz, t,f可任意匹配); 分档:0-500mA,0-1000mA,0-3000 mA,0-5000 mA,0-8000mA,0-12000mA; 误差:±1% |
电压范围:根据需要,误差:±0.2V; 电流范围:0~150A,连续或脉冲(脉冲参数: 占空比t:50~200us f:50~200Hz, t,f可任意匹配,上升沿宽度:20us); 分档: 0-10A; 0-50A; 0-100A, 0-150A; 误差:量程的±1.0% |
波长测量范围与 |
650-1650nm, 分辩率:0.1 nm :±0.4nm |
650-1650nm, 分辩率:0.1 nm :±0.4nm |
650-1650nm, 分辩率:0.1 nm :±0.4nm |
发散角测量范围与 |
θ⊥:-60~+60º, θ∥:-30~+30º, 分辩率:0.4º |
θ⊥:-60~+60º, θ∥:-30~+30º, 分辩率:0.4º |
θ⊥:-60~+60º, θ∥:-30~+30º, 分辩率:0.4º |
温度控制范围与 |
TEC控制:0-50℃; 电加热控制:室温-100℃ :±0.3℃ |
TEC控制:0-50℃; 水循环控制:0-60℃ :±0.5℃ |
水循环控制:0-60℃ :±0.5℃ |