BC2690C型变频抗干扰介质损耗测试仪是一种先进的测量介质损耗（tgδ）和电容容量（Cx）的仪器，用于工频高压下，测量各种绝缘材料、绝缘套管、电力电缆、电容器、互感器、变压器等高压设备的介质损耗，（tgδ）和电容容量（Cx）它淘汰了 QS 高压电桥，具有操作简单、中文显示、打印、使用方便、无需换算、自带高压、抗干扰能力强、测试时间（在国内同类产品中速度快）等特点。体积小、重量轻是我公司的第二代抗干扰介质损耗测试仪。
　　
　　变频抗干扰介质损耗测试仪主要技术指标
　　1、环境温度：0～40℃（液晶屏应避免长时日照）
　　2、相对湿度：30％～70％
　　3、供电电源：电压：220V±10％、频率：50±1Hz
　　4、外形尺寸：长×宽×高 500mm×300mm×400mm
　　5、重量：约18Kg
　　6、输出功率：0.6kVA
　　7、显示分辩率：3位、4位（内部全是6位）。
　　
　　8、测量范围及输出电压选择：
　　介质损耗（tgδ）：±0.00～±999％
　　试品电容容量（Cx）和加载电压：
　　2.5KV档：≤300nF（300000pF）3KV档：≤200nF（200000pF）
　　5KV档：≤76nF（76000pF）7.5KV档：≤34nF（34000pF）
　　10KV档：≤20nF（20000pF）
　　9、基本测量误差：
　　介质损耗（tgδ）：1％±7个字（加载电流20uA～500mA）
　　介质损耗（tgδ）：2％±9个字（加载电流5uA～20uA）
　　电容容量（Cx）：1.5％±1.5pF.