Belec　Compact　Port移动式光谱仪技术参数
　　Belec　Compact　Port移动式光谱仪用于固体样品元素定量分析的仪器。光学系统采用PMT检测器，光谱范围覆盖全部典型材料。

　　Compact　Port移动式光谱仪技术参数
　　光学系统：
　　-帕邢-龙格结构双光谱室，
　　-光栅刻线　360线/mm
　　-罗兰圆30　mm
　　-检测器系统：PMT检测器
　　-色散率：0，9　nm/mm（光谱）
　　-波长范围：190-410nm/20–430　nm

　　探头基本描述
　　低损耗钨电极（氩气火花探头）
　　高效能银电极（空气火花探头）
　　探头链接系统
　　标准探头
　　光源：
　　-火花激发源频率40Hz
　　-单极放电
　　-光源参数，点火频率参数计算机控制
　　-点火电压：20KV
　　电源：
　　20-240V/50-60Hz；
　　待机功率10W；
　　分析功率60W；
　　配备大容量充电电池
　　计算机及读出系统（integrated　hardware）
　　-Euro-Card格式模块计算机系统，Windows　XP操作系统，
　　-RAM>512MB，2¼”Hard　Disc>60　GB，CPU>1.0GHz
　　-电池供电实时时钟日期功能
　　-配备接口，USB，PS2，串口l，VGA，局域网，并口
　　显示屏
　　-内置高清晰度10.4"液晶显示器
　　-坚固耐用工业触摸屏，防水防尘开合式集成键盘，易于操作

　　软件
　　-BELEC　WIN21光谱分析软件，多任务操作：
　　-原材料分选
　　-多种PMI测试程序
　　-自动根据给定偏差和激发次数进行标定控制
　　-可选激发次数进行PMI测试
　　-根据设定数据进行电极清理
　　-对称及不对称偏差
　　-PMI元素显示及相应偏差
　　-检测结果存储及打印
　　-可自由编辑
　　-牌号鉴别
　　-每套曲线存储超过30个牌号数据
　　-PMI测试中显示牌号
　　-分析及搜索给出鉴定牌号
　　-定向分析（成分近似分析）
　　-分析程序无限制数量
　　-显示光强值、强度比、再校准和校正强度比
　　-分析结果百分含量或ppm显示
　　-1-2点曲线再校准
　　-相加和相乘的干扰校正
　　-基体校正
　　-自动选择谱线
　　-任意激发次数的数据计算平均值、标准偏差及变异系数
　　-结果超出曲线范围的标示
　　-样品标识输入
　　-分析数据可传输至外部计算机
　　-连接外部打印机及显示器
　　-硬盘故障自诊断
　　-分析数据以Excel，ASCII等标准格式存储
　　-曲线数量无限制
　　-谱图对比鉴别牌号。