伽利略测厚仪概述：
　　IGM智能型测厚仪，采用高性能、低功耗微处理器技术，PROFBUS-DP总线协议；基于光学和涡流测量原理，可以测量金属及其它多种材料的厚度。采用德国进口传感器灵敏度高、性能稳定、测量准确、经济耐用；在国内镀铝薄膜行业得到广泛应用，得到用户的信任与好评。本产品经历了十几年在恶劣条件下使用的考验，它是一种性能优良、可靠实用的检测仪器。
　　
　　测厚仪应用范围：
　　用于检测各种非金属基体上导电覆盖层的厚度测量，可测铝、铬、镍、铜、锌、锡、银、金等金属镀层，复合镀层约20几种镀层/基体组合。Mobile：1507.2616.119例如：镀铝薄膜、镀铝纸、铝板、铝箔、铜箔、银箔、铝塑板等其他涂层材料。仪器适于在生产现场对产品进行快速无损检查。
　　
　　测厚仪技术规格：
　　Mobile：1507.2616.119
　　测量范围：0.00~6.00 O.D
　　0.00~4.00Ω/□
　　分辨率：0.01 O.D：
　　方阻测量单位：Ω/□（适合不透明基体上进行测量）
　　光学测量单位：O.D（适合半透明基体上进行测量）
　　功耗：3W/套
　　工作电源：±20VDC±5%
　　外形尺寸：80mm×80mm×45mm
　　安装间距：10mm
　　安装空间：200mm×100mm×设备幅宽
　　整机性能：参照意大利伽利略镀铝机
　　重量：280g
　　
　　使用环境：
　　a）环境温度：-30℃〜＋50℃
　　b）贮存温度：-10℃〜＋60℃
　　c）相对湿度：不超过85％
　　
　　测厚仪特点：
　　1.微电脑控制、液晶显示
　　2.非接触式在线厚度测量
　　3.智能化操作，实现自动化远程控制（选件）
　　4.小值/值、高/低报警模式可选
　　5.数据实时显示、在线调整
　　6.具有RS232及PROFBUS-DP接口
　　
　　售后服务承诺：
　　非人为所致的质量问题，产品1年内保修
　　
　　测厚仪标准配置：
　　主机 1台（选件）
　　测量头 X套（每个蒸发舟对应一套测量头）
　　PLC 1台（方阻测量选件）
　　CPU控制卡 1台（光学测量选件）
　　CP5611卡 1台（光学测量选件）
　　组态软件 1套（选件）
　　直流电源 1台（选件）
　　连接电缆 1套（选件）