SFT9500的X射线发生系统是X射线聚光系统（聚光导管）与X射线源相结合，产生束斑直径为Φ0.1mm以下高强度的X射线束，与不采用此技术时相比能得到10倍以上的强度。所以SFT9500可以对以往由于X射线照射强度不足而导致无法得到理想的导线架、接插头、柔性线路板等微小零件及薄膜进行测量。同时，SFT9500采用了高计数率、高分辨率的半导体检测器（无需液氮），在测量镀膜厚度的同时，对于欧盟的RoHS＆ELV法规所限制的有害元素的分析测量也十分有效。

　　产品介绍
　　SFT9500产品规格
　　可测量元素：原子序数13（Al）～83（Bi）
　　X射线聚光：聚光方式
　　X射线源：管电压：50kV
　　管电流：1mA
　　检测器：Vortex®检测器（无需液氮）
　　样品观察：彩色CCD摄像头（附变焦功能）
　　滤波器：3种模式自动切换
　　样品室：样品平台240（W）×330（D）mm
　　移动量X：220mmY：150mmZ：150mm
　　载重量：10kg
　　膜厚测量软件：薄膜FP法（多五层，各层十种元素）
　　检量线法：（单层、双层、合金膜厚成分）
　　定量分析功能：块体FP法
　　统计处理功能：MS-EXCEL®
　　制作：MS-WORD®。