广州镀层测厚仪膜厚为电镀检测基本项目，使用基本工具为萤光膜厚仪（X-ray），其原理是使用X射线照射镀层，收集镀层返回的能量光谱，膜厚测量金、银钯铑镍铜锡铬锌等贵金属多镀层膜厚测量，快速精准无损，业内广受好评。
　　
　　可以测试：铜上镀镍再镀金、铜上镀镍再镀锡、铜上镀镍镀铬、铜上喷锡等复杂镀层，多可同时测量5层，可以测试合金镀层。
　　可以测量非常细密的产品，小测量点可以小到25微米，多种规格可选－圆形，如4、6、8、12、20 mil等－矩形，如1x2、2x2、0.5x10、1x10、2x10、4x16等可以测试方形排位、圆形排位、槽内镀层及圆柱形等所有不规则产品。
　　
　　金属镀层厚度测量，例如Zn；Cr；Cu；AG；Au；Sn等合金（两样金属元素）镀层厚度测量，例如：SnPb；ZnNi；及NiP（无电浸镍）在Fe上等
　　合金（三檬金属元素）镀层厚度测量，例如：AuCuCd在Ni上等
　　双镀层厚度测量，例如：Au／Ni在Cu 上；Cr／Ni在Cu上；Au／AG在Ni上；Sn／Cu在黄铜上等
　　双镀层厚度测量（其中一层是合金层），例如：SnPb／Ni或Au／PdNi在青铜上等
　　三镀层，例如：Cr／Ni／Cu在塑胶或在铁上
　　
　　PCB LED 连接器等行业 gold flash/Nip/Cu 或 Au/Pdni/Cu~~AG/Ni/Cu/Ni/Cu 等常见应用。