自从晶体管，线路板的诞生之日开始表面阻抗测试SIR/离子迁移测试就成为一个常见的测试工具，人们常试用其进行如下测试：来料检验，材料特性检测和验证，失效分析，品质一致性检查，产品寿命的预测分析等。
　　SIR80可以进行表面绝缘阻抗测试，CAF：Conductive　Anodic　Filaments导电阳极丝测试，ECM电化学迁移测试，助焊剂，锡膏，三防涂料等测试。

　　系统概述：
　　1.本系统采用精密电流测量法，实现多路高阻测量
　　2.相互独立的多组试验系统，可使测试系统同时在一个或多个试验箱体内试验多种不同试验电压、测试电压以及不同试验时间的样品；
　　3.采用高可靠性、高的国外品牌仪器，以保证测试系统的可靠性；
　　4.面向用户开发的测试软件，充分满足不同用户的独特要求，测试软件的操作界面更完善、更方便；
　　5.模组式的测试系统结构，使维修方便、快捷；
　　6.独立的UPS供电系统，使测试系统能够保证测试数据的可靠性，可以保证在断电时测量数据不丢失。

　　SIR80
　　技术指标
　　型号
　　SIR80
　　模组设计
　　模组独立控制，可独立测试
　　通道数
　　用户可以定义，>32路
　　工作时间
　　0-9999小时，用户定义
　　偏置电压
　　用户可根据测试标准定义
　　测试电压
　　用户可根据测试标准定义
　　电阻测量范围
　　1012Ω＠5v测试，1013＠100v
　　电阻测量
　　当测试数据在1х104-1х109可以保证≤±3%
　　电流测量
　　±1.015%（20pA范围，满量程）
　　电流测量范围
　　1fA-20mA
　　测试过程取样间隔
　　4秒/点
　　高阻短路阈值
　　104-109Ω用户自定义
　　测试仪器供电
　　UPS电源
　　测量夹具
　　根据用户要求定制
　　环境试验箱控制
　　如果通信协议，在实现控制
　　测试软件语言界面
　　英文，中文可以选择
　　测试数据输出
　　实时监控
　　数据保存
　　文件方式保存，用户可以调用。