我公司基于老化技术以及国标《半导体分立器件试验方法》相关要求设计的LD老化试验台可以模拟LD的各种工作环境，测试LD在不同工作环境下的各电参数和光参数，并进行分析，从而提高元器件产品整体的可靠性，使得产品性能更加可靠。整个LD老化试验箱的基本组成包括：LD卡具、温度控制、LD驱动和光特性分析等四部分组成。采用抽屉式积木结构将各功能部分与试验箱组合在一起。