XT-50型冲击试样投影仪是我公司根据广大用户的实际需要和GB／T299-1994《金属夏比冲击试验方法》中对冲击试样缺口的要求而开发的一种专用于检验夏比V型和U性型缺口加工质量的光学仪器，该仪器是利用光学投影方法将被测的冲击试样V型和U型缺口轮廓放大50倍后投射到投影屏上，与投影屏上的冲击试样V型和U型缺口标准样板图对比，以确定被检测的试样缺口是否合格。其优点是操作简便，对比直观。
　　
　　一、工作原理：
　　本投影仪光源发出的光线经聚光镜照射到被测物体，再经物镜将被照射物体放大的轮廓投射到投影屏上。
　　根据需要，本仪器为单一投射照明，光源通过一系列光学元件投射在工作台上，再通过一系列光学元件将被测试样缺口轮廓清晰的投射到投影仪上。物体经二次放大和二次反射成正像，在投影屏上所看到的图形与实际试样放置的方位一致。
　　
　　二、主要参数：
　　1.投影屏直径：180mm
　　2.工作台尺寸：
　　方工作台尺寸：110×125mm
　　圆工作台直径：90mm
　　工作台玻璃直径：70mm
　　3.工作台行程：
　　纵向：±10mm
　　横向：±10mm
　　升降：±12mm（无刻度）
　　4.工作台转动范围：0～360°（无刻度）
　　5.仪器放大倍率：50X
　　物镜放大倍率：2.5X
　　投影物镜放大倍率：20X
　　6.光源（卤钨灯）：12V、100W
　　7.电源：220V、50Hz
　　8.外形尺寸：515×224×603mm（长×宽×高）
　　9.重量：约18Kg