C测试仪(3504-60, 3504-50, 3504-40)
价格:电议
地区:广东省 广州市
传 真:86-20-83649980
C测试仪3504-60,C测试仪3504-50用BIN的分选接口进行被测物体的测试
C测试仪3504-40记录工具,实现高速/低成本的测试
高速测量2ms
C、D 2项目测试
能以恒定电压测量大容量的多层陶瓷电容
测试源频率:120Hz,1kHz
RS-232C
封装机、分选机、电容器的合格与否的判断和等级分类等
能根据C 和D(损耗系数*2)的测量值,进行被测物合格与否的判断
对应测试线,比侧仪功能/触发输出功能
查出全机测量中的接触错误,提高成品率
C测试仪3504-60基本参数
测量参数 CS,Cp(电容),D(损耗系数tanδ)
测量范围 C:0.9400pF~20.0000mF
D:0.00001~1.99000
基本确度(代表值)C:±0.09%rdg.±10 dgt.,D:±0.0016
※测定确度=基本确度×B×C×D×E,B~Eは各系数
测量频率 120Hz,1kHz
测量信号电平恒定电压模式:100mV(仅限3504-60)500 mV,1 V.
测量范围:
CV 100mV:~170μF 量程(测量频率 1kHz),~1.45mF 量程(测量频率 120Hz)
CV 500mV:~170μF 量程(测量频率 1kHz),~1.45mF 量程(测量频率 120Hz)
CV 1V:~70μF 量程(测量频率 1kHz),~700μF 量程(测量频率 120Hz)
输出电阻 5Ω(开路端子电压模式,上述测量范围以外)
显示发光二级管(6行表示,满量程计算器根据量程而定)
测量时间典型值:2.0 ms(1 kHz,FAST)
※测量时间根据测量频率、测量速度的不同而不同
机能 4端子控制检测功能(仅限 3504-60),BIN测量(除去3504-40),触发同时输出,储存测量条件,比较测量值的场强,平均值功能,Low-C抑制功能,鸣叫功能,控制用输出入(EXT.I/O),RS-232C界面(标准装备),GP-IB接口(3504-40除外)
电源 AC 100/120/220/240V±10%(可选择),50/60Hz,110VA
体积及重量 260W×100H×220Dmm,3.8kg
附件电源线×1,预备电源保险丝×1
C测试仪3504-50输入用探头/测试夹具,实体不附带。按照测量目的,不同型号有不同的探头/测试夹具选件。