HP4145A半导体参数测试仪可以快速的对半导体器件和材料进行直流参数测试。特性如下：
　　1、半导体器件全自动、高速直流测试；
　　2、具有高分辨率、宽测量范围：I：1pA-100mA，V：1mV-100V　；
　　3、分辨率1150；
　　4、内置微型软盘，可存储240个用户程序或105个测试结果。