在上述系统基础上，把点光斑做成200*200mm大光斑，用来测量晶硅等电池的整片光谱响应，解决当前仅能测得电池片局部光谱响应的问题；并依据国际电工法规（IEC）进行光谱失配因子（Spectral Mismatch Factor）的修正；依照Fraunhofer ISE照射光斑面积尺寸≥156×156 mm2，覆盖整片电池，让测试得到的光谱响应数据更具科学性。

亮点：光学器件是由英国BENTHAM制造

        高可靠性

        高重复测量