CMI243涂镀层测厚仪
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产品属性
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CMI243探针状况: CMI243的ECP-M探头专为较难测量的金属覆层设计,此单探头可以测量铁质底材上几乎所有金属覆层,例如锌,镍,铜,铬和镉.更小的探针为极小的,形状特殊的或表面粗糙的零件提供了便捷的测量.
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操作范围 | ||
铁上镀层 | 镀层厚度范围 | 探头 |
Zn | 0-38μm(0-1.5mil) | ECP-M |
Ni | 0-75μm(0-3.0mil) | ECP-M |
Cd | 0-38μm(0-1.5mil) | ECP-M |
Cr | 0-38μm(0-1.5mil) | ECP-M |
Cu | 0-10μm(0-0.4mil) | ECP-M |
非磁性/Fe | 0-1270μm(0-50mil) | SMP-1 |