emmc测试老化座(BGA153,BGA169)
价格:电议
地区:广东省 深圳市
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  一、产品特点:
  ※兼容有球无球测试,IC限位框可更换,相比同类产品具有使用寿命长、通用性广(支持尺寸:14mmX18mm);
  ※电压可调设计,同时具备过流保护功能,可以测试flash与主控芯片电流(加电流表可监测电流);
  ※支持热拔插,同时支持通过SD接口、排针与相应设备连接测试;
  ※同时兼容:东芝、三星、海力士、Intel、Sandisk(新帝)等所有同样封装的 4BIT、8BIT eMMC 闪存记忆体。(只需相应 PIN 脚定义一样
  ※同时兼容 169-FBGA 153-FBGA;
  ※弹片采用进口铍铜经高模具冲压成形,头形仿探针设计,后期加硬、加厚镀金层处理,从而保证产品稳定性及耐用性;
  ※采用通孔焊接结构保证接触良好,socket与PCBA采用定位孔结合方便更换;
  ※采用下压式结构,更加便于自动化测试,操作方便简单;
  ※采用浮板结构,定位,取放IC方便,工作效率更高;
 
  二、测试
  (1)把IC按方向平放入SOCKET内。
  (2)选择相对应的电压,本测试治具默认电压为3.3V,如果要求为1.8V请把跳帽到2~3位置;
  (3)把eMMC 夹具按方向插在读卡器上,打开相应的测试软件进行测试。