便携式数字IC测试仪 型号:TQ04-GUT-6000B
价格:电议
地区:北京市
电 话:18101382572
手 机:18101382572

便携式数字IC测试仪 型号:TQ04-GUT-6000B便携式数字IC测试仪 型号:TQ04-GUT-6000B

产品规格

测试范围


54/74 系列 TTL

4000 及 4500 系列 CMOS

DRIVE

量测种类


约 1800 种

测试电压


2.5/3.0/3.3/5V DC

测试时间


高测试速度,平均 0.6 秒可完成一个 IC

使用电源


交流 100V~240V +10%, 50/60Hz

尺寸及重量


335(宽) x 105(高) x 300(长) mm

约 1.5 公斤

尺寸及重量

便携式数字IC测试仪 型号:TQ04-GUT-6000B便携式数字IC测试仪 型号:TQ04-GUT-6000B

产品规格

测试范围


54/74 系列 TTL

4000 及 4500 系列 CMOS

DRIVE

量测种类


约 1800 种

测试电压


2.5/3.0/3.3/5V DC

测试时间


高测试速度,平均 0.6 秒可完成一个 IC

使用电源


交流 100V~240V +10%, 50/60Hz

尺寸及重量


335(宽) x 105(高) x 300(长) mm

约 1.5 公斤

尺寸及重量

产品规格

测试范围


54/74 系列 TTL

4000 及 4500 系列 CMOS

DRIVE

量测种类


约 1800 种

测试电压


2.5/3.0/3.3/5V DC

测试时间


高测试速度,平均 0.6 秒可完成一个 IC

使用电源


交流 100V~240V +10%, 50/60Hz

尺寸及重量


335(宽) x 105(高) x 300(长) mm

约 1.5 公斤

产品规格

测试范围


54/74 系列 TTL

4000 及 4500 系列 CMOS

DRIVE

量测种类


约 1800 种

测试电压


2.5/3.0/3.3/5V DC

测试时间


高测试速度,平均 0.6 秒可完成一个 IC

使用电源


交流 100V~240V +10%, 50/60Hz

尺寸及重量


335(宽) x 105(高) x 300(长) mm

约 1.5 公斤

产品规格

测试范围


54/74 系列 TTL

4000 及 4500 系列 CMOS

DRIVE

量测种类


约 1800 种

测试电压


2.5/3.0/3.3/5V DC

测试时间


高测试速度,平均 0.6 秒可完成一个 IC

使用电源


交流 100V~240V +10%, 50/60Hz

尺寸及重量


335(宽) x 105(高) x 300(长) mm

约 1.5 公斤


是否全新:

全新

测试范围:

54/74 系列 TTL 4000 及 4500 系列 CMOS DRIVE

量测种类:

约 1800 种

测试电压:

2.5/3.0/3.3/5V DC

测试时间:

高测试速度,平均 0.6 秒可完成一个 IC

使用电源:

交流 100V~240V +10% 50/60Hz

尺寸及重量:

335(宽) x 105(高) x 300(长) mm 约 1.5 公斤