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便携式数字IC测试仪 型号:TQ04-GUT-6000B便携式数字IC测试仪 型号:TQ04-GUT-6000B
产品规格
测试范围
54/74 系列 TTL
4000 及 4500 系列 CMOS
DRIVE
量测种类
约 1800 种
测试电压
2.5/3.0/3.3/5V DC
测试时间
高测试速度,平均 0.6 秒可完成一个 IC
使用电源
交流 100V~240V +10%, 50/60Hz
尺寸及重量
335(宽) x 105(高) x 300(长) mm
约 1.5 公斤
尺寸及重量
便携式数字IC测试仪 型号:TQ04-GUT-6000B便携式数字IC测试仪 型号:TQ04-GUT-6000B
产品规格
测试范围
54/74 系列 TTL
4000 及 4500 系列 CMOS
DRIVE
量测种类
约 1800 种
测试电压
2.5/3.0/3.3/5V DC
测试时间
高测试速度,平均 0.6 秒可完成一个 IC
使用电源
交流 100V~240V +10%, 50/60Hz
尺寸及重量
335(宽) x 105(高) x 300(长) mm
约 1.5 公斤
尺寸及重量
产品规格
测试范围
54/74 系列 TTL
4000 及 4500 系列 CMOS
DRIVE
量测种类
约 1800 种
测试电压
2.5/3.0/3.3/5V DC
测试时间
高测试速度,平均 0.6 秒可完成一个 IC
使用电源
交流 100V~240V +10%, 50/60Hz
尺寸及重量
335(宽) x 105(高) x 300(长) mm
约 1.5 公斤
产品规格
测试范围
54/74 系列 TTL
4000 及 4500 系列 CMOS
DRIVE
量测种类
约 1800 种
测试电压
2.5/3.0/3.3/5V DC
测试时间
高测试速度,平均 0.6 秒可完成一个 IC
使用电源
交流 100V~240V +10%, 50/60Hz
尺寸及重量
335(宽) x 105(高) x 300(长) mm
约 1.5 公斤
产品规格
测试范围
54/74 系列 TTL
4000 及 4500 系列 CMOS
DRIVE
量测种类
约 1800 种
测试电压
2.5/3.0/3.3/5V DC
测试时间
高测试速度,平均 0.6 秒可完成一个 IC
使用电源
交流 100V~240V +10%, 50/60Hz
尺寸及重量
335(宽) x 105(高) x 300(长) mm
约 1.5 公斤
全新
54/74 系列 TTL 4000 及 4500 系列 CMOS DRIVE
约 1800 种
2.5/3.0/3.3/5V DC
高测试速度,平均 0.6 秒可完成一个 IC
交流 100V~240V +10% 50/60Hz
335(宽) x 105(高) x 300(长) mm 约 1.5 公斤