加速寿命试验的目的是提高环境应力（如：温度）与工作应力（施加给产品的电压、负荷。等），加快试验过程，缩短产品或系统的寿命试验时间。
　　
　　用于调查分析何时出现电子元器件，和机械零件的摩耗和使用寿命的问题，使用寿命的故障分布函数呈什么样的形状，以及分析失效率上升的原因所进行的试验。
　　
　　随着半导体可靠性的提高，目前大多半导体器件能承受长期的THB试验而不会产生失效，因此用来确定成品质量的测试时间也相应增加了许多。为了提高试验效率、减少试验时间，采用了新的压力蒸煮锅试验方法。压力蒸煮锅试验方法主要分成两种类型：即PCT和USPCT（HAST）现在压力蒸煮锅试验作为湿热加速试验被IEC（国际电工委员会）所标准化。注意事项：USPCT现在称为HAST（高度加速应力试验）
　　
　　产品特点：
　　■智能型排气设计（锅炉内空气抽出）提高压力稳定性、再现性
　　■长时间实验机台运转400小时超长效实验运转时间
　　■内建USB2.0＆磁盘驱动器数字记录器储存接口创新USB2.0储存接口
　　■箱体耐压力（140℃）2.65kg，符合水压测试6kg tank耐压设计
　　■二段式压力安全保护装置采两段式结合控制器与机械式压力保护装置
　　■安全保护排压钮紧急安全装置二段式自动排压钮
　　
　　直立式全彩触控控制系统
　　控制系统通过EMC（电磁兼容性）验证
　　直立式全彩液晶TFT，简体显示器
　　0.1℃／1％RH解析能力
　　999 H59M
　　全自动控制与安全保护协调系统
　　High power LED运转状态指示灯
　　
　　温湿度表：
　　性能
　　1.1设定温度：＋100℃～＋135℃（饱和蒸气温度）
　　1.2湿度范围：75～100％饱和蒸气湿度0Kg～3.5 Kg／cm2（内桶设计耐压 4 Kg／cm2）
　　1.3时间范围：000 Hr～999 Hr
　　1.4加压时间：0.00 Kg～1.04 Kg／cm2约 45
　　1.5测试条件：温度121℃，100％RH饱和蒸气，压力1.04 Kg／c㎡
　　
　　结构
　　2.1试验箱尺寸：直径30cmx 深度50 cm／直径35cmx 深度50 cm，圆型试验室
　　2.2全机外尺寸（请以实际尺寸为准）：900x 800 x 900 cm（W＊D＊H）
　　2.3内桶材质：不锈钢板材质＃SUS-316制
　　2.4外桶材质：不锈钢板材质＃SUS-304制
　　2.5控制系统
　　a.采用触控式控制器，控制试验室湿度，温度，时间
　　b.采用指针显示压力表。（可选购数显式）
　　c.微电脑 P.I.D 自动演算控制饱和蒸气温度。
　　c.手动／自动入水阀。
　　2.6机械结构：
　　a.圆型内箱，不锈钢圆型试验内箱结构，符合工业安全容器标准，可防止试验中结露滴水设计。
　　b.圆幅内衬，不锈钢圆幅型内衬设计，可避免蒸气潜热直接冲击试品。\
　　c.精密设计，气密性良好，耗水量少，每次加水可连续 500Hrs 运转。
　　d.自动门禁，圆型门自动温度与压力检知安全门禁锁定控制，安全门把设计，内有大于常压时测试门会被反压保护。型packing设计使门与箱体更紧密结合，与传统挤压式完全不同，可延长packing寿命。
　　f.临界点 LIMIT 方式自动安全保护，异常原因与故障指示灯显示
　　
　　其它附属配件
　　3.1测试置架
　　3.2样品盘
　　3.3蒸气挡片1
　　3.4污染清洁剂 2包。
　　3.5 OPTION选购配件：
　　a.压力信号传输器
　　验数据记录器
　　系统：
　　4.1系统电源波动不得大于±1
　　4.2电源：单相 220V 20A 50／60H
　　环境＆设施：
　　5.1可容许使用工作环境温度5℃～30℃
　　5.2实验用水：纯水
　　
　　附配文件：
　　1.系统全新保证书，保固书
　　2.操作保养手册