Hl霍尔效应测试系统
　　NANOMETRICS HL5500PC
　　1.可测试半导体材料及外延层材料电阻系数，载流子浓度及迁移率
　　2.应用材料：Si、III-V、II-VI和宽禁带半导体材料CIGS铜铟镓锡薄膜
　　3.无需对Sample加工，即可Van Der Pauw、Bar、Bridge三种形式测试
　　4.使用磁场：磁场强度0.32T±1%，十年内漂移率小于 0.1%，中心25mm内磁场均匀度小于±1%，磁场强度选择 0.1/0.2/0.4/0.5T
　　5.可测试高达100GΩ之样品
　　6.可选配90〜500K、室温-600℃，LHe液氦温区4K或10K之变温测试平台
　　
　　我司另有其他型号规格的设备：
　　LED外延磊晶系列：HL霍尔效应测试系统、PL Mapping 光荧光光谱仪、全自动电化学C-V测试系统、X射线绕射仪、快速EL测试系统、非接触式面电阻测试仪、LED衬底材料厚度/平坦度测试仪等。
　　LED芯片制程系列：LED芯片测试机、半自动LED芯片探针台、手动LED芯片探针台、LED芯片/成品老化测试系统、LED抗静电能力测试仪、ITO表面电阻测试仪、ITO膜厚/反射/折射/透射率测量系统等。
　　LED封装测试系列：SMD/TOP LED材料测试分选机、大功率LED材料测试系统、手动LED芯片来料抽检系统、LED视角机、LED专用分光光谱仪、LED波长检测仪、离子风扇系列等。