X-荧光镀层测厚仪CMI900／950金属镀层厚度的测量
　　CMI　900／950系列X射线荧光测厚仪是一种功能强大的材料涂／镀层测量仪器，可应用于材料的涂／镀层厚度、材料组成、贵金属含量检测等领域，为产品质量控制提供准确、快速的分析。基于Windows2000中文视窗系统的中文版SmartLink　FP应用软件包，实现了对CMI900／950主机的全面自动化控制。
　　
　　技术参数：
　　CMI　900　X-射线荧光镀层厚度测量仪，在技术上一直以来都于全世界的测厚行业
　　A、CMI　900能够测量包含原子序号22至92的典型元素的电镀层、镀层、表膜和液体，极薄的浸液镀层（银、金、钯、锡等）和其它薄镀层。区别材料并定性或定量测量合金材料的成份百分含量可同时测定多5层、15种元素。
　　B、度于世界，到0.025mil（相对与标准片）
　　C、数据统计功能允许用户自定义多媒体分析格式，以满足您特定的分析格式要求；
　　如在分析中插入数据图表、测定位置的图象、CAD文件等。
　　D、统计功能提供数据平均值、误差分析、值、小值、数据变动范围、相对偏差、UCL（控制上限）、LCL（控制下限）、CpK图、直方图、X-bar／R图等多种数据分析模式。CMI900／950系列X射线荧光测厚仪能够测量多种几何形状各种尺寸的样品；
　　E、可测量任一测量点，小可达0.025x0.051毫米
　　
　　样品台选择：
　　CMI900系列采用开槽式样品室，以方便对大面积线路板样品的测量。它可提供五种规格的样品台供用户选用。