技术参数
　　分析范围：1PPM-99.99%
　　同时分析：几十种元素同时分析
　　测镀层厚度至0.01微米
　　测量对象：固体，粉未，液体
　　测量时间：60-300秒
　　测量：0.05%
　　分析元素：Na-U
　　工作温度：15-26℃
　　相对湿度：≤70%
　　重量：80KG
　　功耗：200瓦
　　
　　主要特点
　　1、仪器尺寸 630mm*440mm*380mm
　　2、测量样品室 400mm*260mm*110mm
　　3、重量约 40Kg
　　4、适宜温度 5-30℃
　　5、相对湿度≤80%
　　6、元素分析范围钾（K）到铀（U）
　　7、含量分析范围为 2 PPm 到 100000 ppm
　　8、测量时间 60-300秒（任意调整）
　　9、分辨率 149--186 eV FWHM＠5.9 KeV
　　10、电源交流 220V±5V 或 110V±5V
　　11、电源频率 47-63 Hz
　　12、高压输入＋24V DC＋-10%，4.0 A（）
　　13、高压输出 0-50KV＠1mA 功率 50W
　　
　　仪器配置：
　　电制冷硅探测器：美国Amptek公司定制
　　高压电源：美国Spellman
　　DP4：高集成度数据处理器美国Amptek公司定制
　　X光管：荧光分析仪专用
　　制冷系统：在电子式制冷的基础上又增加两套独立水循环制冷系统
　　计算机：DELL-OPTIPLEX 210L商务
　　软件：RoHS标准全套检测软件