应用
　　CMI900X射线荧光镀层测厚仪，有着非破坏，非接触，多层合金测量，高生产力，高再现性等优点的情况下进行表面镀层厚度的测量，从质量管理到成本节约有着广泛的应用。
　　行业
　　用于电子元器件，半导体，PCB，汽车零部件，功能性电镀，装饰件，连接器多个行业表面镀层厚度的测量。
　　
　　主要规格规格描述
　　X射线激发系统垂直上照式X射线光学系统空冷式微聚焦型X射线管，Be窗
　　标准靶材：Rh靶；任选靶材：W、Mo、Ag等
　　功率：50W（4-50kV，0-1.0mA）
　　◆标准
　　装备有安全防射线光闸
　　二次X射线滤光片：3个位置程控交换，多种材质、多种厚度的二次滤光片任选
　　准直器程控交换系统多可同时装配6种规格的准直器。
　　
　　样品室
　　◆样品室结构开槽式样品室
　　◆样品台尺寸610mmx610mm
　　◆XY轴程控移动范围标准：152.4x177.8mm还有5种规格任选
　　◆Z轴程控移动高度43.18mm
　　◆XYZ三轴控制方式多种控制方式任选：XYZ三轴程序控制、XY轴手动控制和Z轴程序控制、XYZ三轴手动控制
　　◆样品观察系统高分辨彩色CCD观察系统，标准放大倍数为30倍。（50倍和100倍观察系统任选。）
　　激光自动对焦功能
　　可变焦距控制功能和固定焦距控制功能
　　样品种类：镀层、涂层、薄膜、液体（镀液中的元素含量）
　　可检测元素范围：Ti22–U92。可同时测定5层／15种元素／共存元素校正。