无接触式厚度电阻率测量仪(DSI2000)
价格:电议
地区: 上海市
硅片要求
规格:
方片:125×125mm、156×156mm
圆片:3"、4"、5"、6"、8"
测量功能
厚度:点及多点厚度
TTV:总厚度偏差
体电阻率:单点及多点电阻率
TRV:总体电阻率偏差
测量指标
厚度:
范围:150-1000μm
测量误差:≤±1.0μm
重复性1σ:≤0.2μm
TTV:
范围:0.0-200.0μm
测量误差:≤±0.50μm
重复性1σ:≤0.2μm
电阻率:
范围:0.1-30Ω。cm
测量误差:≤±3.0%*R
重复性1σ:≤1.5%*R