薄膜厚度测量仪(F20)
价格:电议
地区: 北京市
传 真:86-10-58816819
产品名称:F20薄膜厚度测量仪
产品简介:
F20是我们的通用台式仪器。薄膜厚度和折射率在几秒钟内就能得到测量。就像我们所有的台式仪器一样,F20需要连接到您装有Windows计算机的USB端口上并在数分钟内即可完成设定。
不同的F20膜厚测量仪主要是根据波长范围来加以区分的。标准的F20是我们为普遍的产品。较短的波长(例如,F20-UV)一般用于测量较薄的薄膜,而较长的波长(例如,F20-NIR)则可以用来测量更厚、更不平整以及更不透明的薄膜。
产品特性:
操作简单、使用方便;
测量快速、准确;
体积小、重量轻;
价格便宜
产品应用:
半导体行业:光阻、氧化物、氮化物;
LCD行业:液晶盒间隙厚度、派瑞林薄膜;
光电镀膜应用:硬化膜、抗反射膜、滤波片 4、硅片涂胶工艺。