一、冷热冲击试验箱用途用于电子电器零组件、自动化零部件、通讯组件、汽车配件、金属、化学材料、塑胶等行业，国防工业航天、兵工业、BGA、PCB基扳、电子芯片IC、半导体陶磁及高分子材料之物理牲变化，测试其材料对高、低温的反复抵拉力及产品于热胀冷缩产出的化学变化或物理伤害，可确认产品的品质，从精密的IC到重机械的组件，无一不需要它的理想测试工具。
　　二、冷热冲击试验箱满足标准国军标GJB150.3-86；国军标GJB150.国军标GJB150.5-86；GB2423.1-89电工电子产品基本试验规程试验　A：低温试验方法　GB2423.2-89电工电子产品基本试验规程试验
　　B：高温试验方法