集成电路高温动态老化系统
　　产品详情
　　符合标准：GJB548（等同MIL-STD-883）、GJB　597（等同MIL-M-38510）
　　适用范围：
　　适用于对各种数字、模拟、数模混合集成电路和SOC电路、微处理器、存储器等微电子电路进行高温动态老化试验。
　　工作特性：
　　●一板一区工作方式，多可同时进行16种规格、批次的器件进行筛选试验，适应多品种、小批量。
　　●超温报警装置，确保温度条件安全施加。
　　●可检测各组电源工作情况及试验箱温度并描绘其与时间相关的曲线。
　　●软件全编辑信号产生方式，可满足包括存储器在内的多种集成电路器件的动态老化要求。
　　●集成的用户软件包基于WINDOWS平台开发，功能完备并有良好的可扩展性。
　　●主从式RS485全双工高速串行通讯接口，远距离通讯能力强，数据传输安全可靠。
　　●试验容量和系统分区可根据实际情况另行配置。
　　●试验箱可选择两个小型试验箱，每个试验箱装8块老化板，可同时进行两个温度条件的试验。
　　●可提供专用调式台，具备独立的DUT试运行接口和维修接口，方便试验前或试验中对DUT和老化板进行试验状态检查。
　　电子电路进行高温动态老化试验。
　　技术性能：
　　型号  ELEA-V  ELEH-V
　　系统分区  16区（标准）
　　试验容量  208×16（以DIP14计）  /
　　试验温度  150℃
　　数字信号路数  每板64路  每板8路
　　数字信号  每路可独立编辑信号的数据、地址、控制、三态特性；信号频率：2MHz；小编程分辨率100ns，小编程步长100ns；编程深度256k；信号幅度程控范围：2.0V～18.0V；寻址深度：64G；数字信号可采用直接输入、字符输入、程序输入三种方法编程；
　　模拟信号  多路多种类模拟信号发生单元及驱动电路，频率可达1MHz；驱动电流：1A；信号幅度Vpp20V；直流偏移量：0～1/2Vpp；
　　试验状态监测  64路信号示波监测接口；宽范围数字、模拟信号频率自动测试、记录；二级电源电压监测；
　　二级电源电流、信号峰值监测（可选）
　　通讯速率  500K
　　二级电源  可程控VCC、VMUX、VEE；
　　输出能力：2V～18V/10A；
　　具备灌电流能力；  2组正电源：VCC1（＋2V~＋36V）、VCC2（＋2V~＋36V）；
　　2组负电源：VEE1（-2V~-36V）、VEE2（-2V~-36V）；电流为10A；
　　具有过流、过压及过热保护功能；
　　电源要求  输入：AC380V，50Hz，三相（220V单相可选）；
　　  整机功率：8kW以下  整机功率：12kW以下
　　重量  约500kg
　　外形尺寸（宽×高×深）  1313mm×1950mm×1350mm