CMI900／950系列X射线荧光测厚仪是一种功能强大的材料涂／镀层测量仪器，可应用于材料的涂／镀层厚度、材料组成、贵金属含量检测等领域，为产品质量控制提供准确、快速的分析。基于Windows2000中文视窗系统的中文版SmartLink　FP应用软件包，实现了对CMI900／950主机的全面自动化控制，分析中不需要任何手动调整或手动参数设定。可同时测定多5层、15种元素。数据统计功能允许用户自定义多媒体分析格式，以满足您特定的分析格式要求；如在分析中插入数据图表、测定位置的图象、CAD文件等。统计功能提供数据平均值、误差分析、值、小值、数据变动范围、相对偏差、UCL（控制上限）、LCL（控制下限）、CpK图、直方图、X-bar／R图等多种数据分析模式。　
　　
　　CMI900／950系列X射线荧光测厚仪能够测量多种几何形状、各种尺寸的样品；并且测量点小可达0.025×0.051毫米。