硬体设备

 半自动 LED wafer/chip 点测设备

 漏电流测试模组

 电源量测单元

 光学测试模组

 ESD 测试模组 (选配)

Chroma 58173 是一组全新独特的量测 LED 全光 通量之自动化测试系统。在LED的裸晶与晶粒测 试生产线中，常见使用部份光通量来取代全光通 量之量测方式 (见图1)。然而，传统的方式存在 一些缺点，例如：准确度较低、讯噪比较低、测 试时间较长等，以致于导入LED 的裸晶与晶粒生 产线时会发生问题。

致茂研发出一种全新、高速且高度之 LED 全光通量之量测方式(见图2)。 这种创新的量测 方式不仅比传统方式收集更多的 LED 部分光通 量，也明显的改善提升了量测度。

在光学量测方面，主波长、峰波长、色温等均可 透过致茂独特的光学设计与元件取得且稳定 快速之数据；在机构方面，58173 搭载一个6吋 的晶片载盘与校正基座，提供使用者一个完整 的校正与测试平台；在电性测试方面，58173 则 具备完整之电源量测单元，无论顺向电压、漏电 流、逆向崩溃电压等 LED 电性特性，均可于一 次满足使用者的测试需求。

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