冲击试样缺口投影仪(CST-50)
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  CST-50型冲击试样投影仪是我公司根据广大用户的实际需要和GB/T299-1994《金属夏比冲击试验方法》中对冲击试样缺口的要求而开发的一种专用于检验夏比V型和U性型缺口加工质量的光学仪器,该仪器是利用光学投影方法将被测的冲击试样V型和U型缺口轮廓放大50倍后投射到投影屏上,与投影屏上的冲击试样V型和U型缺口标准样板图对比,以确定被检测的试样缺口是否合格。其优点是操作简便,对比直观。
  
  工作原理: 
  本投影仪光源发出的光线经聚光镜照射到被测物体,再经物镜将被照射物体放大的轮廓投射到投影屏上。 
  
  根据需要,本仪器为单一投射照明,光源通过一系列光学元件投射在工作台上,再通过一系列光学元件将被测试样缺口轮廓清晰的投射到投影仪上。物体经二次放大和二次反射成正像,在投影屏上所看到的图形与实际试样放置的方位一致。
  
  主要参数: 
  投影屏直径:180mm  
  工作台尺寸:  
  方工作台尺寸:110×125mm 
  圆工作台直径:90mm 
  工作台玻璃直径:70mm 
  工作台行程: 
  纵向:±10mm
  横向:±10mm
  升降:±12mm(无刻度)
  工作台转动范围:0-360°(无刻度) 
  放大倍数: 
  仪器放大倍率:50X 
  物镜放大倍率:2.5X
  投影物镜放大倍率:20X
  光源(卤钨灯):12V 100W
  外形尺寸:515×224×603mm(长×宽×高)
  重量:约18Kg。